環(huán)境掃描電子顯微鏡在材料科學(xué)中的若干應(yīng)用
發(fā)布日期：2006-08-23
瀏覽數(shù)：1101
【作者】：姚?i，李春艷，董向紅，張長(zhǎng)亮，薛濤，黃彥維 【單位】：天津大學(xué)分析測(cè)試中心，天津 300072 【摘要】： 本文簡(jiǎn)單介紹了構(gòu)成環(huán)境掃描電鏡（ESEM）的多級(jí)真空系統(tǒng)和氣體二次電子探測(cè)器，描述了ESEM的基本工作原理。指出環(huán)境掃描電鏡在材料科學(xué)研究中的獨(dú)特作用、適用領(lǐng)域，并列舉了若干應(yīng)用實(shí)例。
